PHƯƠNG PHÁP NGOẠI SUY XÁC ĐỊNH CHÍNH XÁC HẰNG SỐ MẠNG CỦA TINH THỂ CÓ CẤU TRÚC LẬP PHƯƠNG TỪ GIẢN ĐỒ NHIỄU XẠ TIA X ỨNG DỤNG TRONG PHÂN TÍCH CẤU TRÚC VẬT LIỆU

                                                                                              NGUYỄN PHƯƠNG ĐÔNG

K58A – Khoa Hóa học, Trường Đại học Khoa học Tự nhiên, Đại học Quốc gia Hà Nội

I – ĐẶT VẤN ĐỀ

Khi xác định một kiểu mạng tinh thể của một đơn chất hoặc hợp chất nào đó thì điều cần thiết là phải biết được giá trị hằng số mạng chính xác của nó. Biết được điều này, có thể suy đoán được bản chất của liên kết nguyên tử trong vật rắn.Trong Hóa học, người ta thường sử dụng phương pháp nhiễu xạ tia X để phân tích cấu trúc vật liệu. Từ giản đồ nhiễu xạ tia X, có thể thu được rất nhiều những thông tin khác nhau của vật liệu đang nghiên cứu. Và 1 trong những thông tin quan trọng đó là nhiều các giá trị hằng số mạng có thể được xác định thông qua bộ chỉ số (h, k, l); góc nhiễu xạ 2  của giản đồ nhiễu xạ tia X. Vậy, vấn đề đặt ra là làm thế nào để thu được chỉ một giá trị hằng số mạng chính xác từ rất nhiều các giá trị đó. Trong bài viết này sẽ giới thiệu phương pháp ngoại suy về vị trí góc nhiễu xạ =90  để xác định chính xác hằng số mạng của cấu trúc tinh thể dạng lập phương bằng kỹ thuật chụp ảnh nhiễu xạ tia X mẫu trong buồng Debye hình trụ. Đây là phương pháp được sử dụng phổ biến trong kỹ thuật phân tích cấu trúc vật liệu hiện nay.

II – SƠ LƯỢC VỀ NHIỄU XẠ TIA X

Nhiễu xạ tia X là một trong những phương pháp quan trọng nhất để nghiên cứu các đặc trưng của vật liệu như: cấu trúc tinh thể, kích thước tinh thể, sức căng mạng tinh thể, thành phần hóa học…

Tia X có bản chất là sóng điện từ có bước sóng cỡ khoảng cách liên kết giữa các nguyên tử nên khi tia X đi qua bất kỳ một tập hợp nguyên (phân) tử nào, nó sẽ bị tán xạ. Sự tán xạ tia X trên từng nguyên tử trong tập hợp đó sẽ giao thoa với nhau và tạo thành hiện tượng nhiễu xạ tia X (XRD).